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]]>部分數字萬用表具備晶體管測試功能,可直接顯示觸發電壓(Vgt)。觸發電壓過高(如超過3V)可能導致電路驅動不足。
提示:
動態測試需配合直流電源與限流電阻搭建簡易電路,觀察可控硅在觸發信號下的導通/關斷特性。
| 現象 | 可能原因 |
|---|---|
| 無法觸發導通 | 門極開路、觸發電壓過高 |
| 觸發后不能維持導通 | 維持電流不足、器件老化 |
| MT1-MT2間漏電流大 | 內部污染、部分擊穿 |
當負載電流低于維持電流(Ih)時,可控硅將自動關斷。需檢查:
* 負載阻抗是否過大
* 驅動脈沖寬度是否足夠
* 器件規格書中的Ih參數
電壓變化率(dv/dt)過高是主因:
* 在MT1-MT2間并聯緩沖電路(RC網絡)
* 確保門極走線遠離干擾源
* 選用高dv/dt耐受型號
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